在以太網(wǎng)交換機性能測試過程中，經(jīng)常會遇到非設(shè)備性能因素導(dǎo)致的丟包，對測試產(chǎn)生困擾。這里簡單羅列幾種：

    1、測試套上報FCS錯誤。

　 一般是因為某根網(wǎng)線、光纖或某個模塊故障。解決方法為更換網(wǎng)線、光纖或模塊;

    2、小字節(jié)不丟包，大字節(jié)丟包。

    因為大字節(jié)占用buffer資源更多，所以這種情況一般是因為長幀造成的資源不足引起的，可以通過改變buffer設(shè)置，來優(yōu)化測試結(jié)果;

    3、大字節(jié)不丟包，小字節(jié)丟包。

    這種情況一般是由描述符資源限制引起的。部分芯片會為每個報文在其入端口上分配一個報文描述符，相同流量情況下，小字節(jié)占用的報文描述符就多;

    4、MAC HASH沖突。

    在二層性能測試中，如果使用大量MAC地址測試，可能會出現(xiàn)少量MAC不能被芯片學(xué)習(xí)的情況，導(dǎo)致部分流量廣播，造成丟包。應(yīng)先測試設(shè)備的MAC HASH能力，然后調(diào)整MAC地址的數(shù)量;

    5、聚合端口HASH不均造成丟包。

    一般情況下，在多芯片或者堆疊環(huán)境中，芯片之間的級聯(lián)口，或者堆疊設(shè)備之間的堆疊鏈路，都會使用多個高速鏈路的聚合方式來實現(xiàn)。在HASH算法不能保證絕對平均的情況下，會產(chǎn)生某條高速HASH到的流量速率過大，導(dǎo)致的丟包。

每期推薦：

CMIL-IERM228

交換芯片：盛科CTC7132

處理器：交換芯片內(nèi)嵌ARM53處理器

網(wǎng)絡(luò)接口：24路10/10/1000Base-T; 4路10GBase-X

內(nèi)存：1GBDDR4

存儲：1GB Nandflash,32MB SPI flash

接口形式：TTF推拉自鎖/光航插

散熱方式：無風(fēng)扇，導(dǎo)熱

層級：L2/L3

交換容量：<128G

管理接口：支持

管理串口：支持

一鍵重啟：支持

防護等級：IP65

設(shè)備尺寸（長寬高）：482*88*400mm